[Invited Paper] CICC2014 採録決定

IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2014においてInvited Paperとして論文採録が決定しました。

会議は9月15日からアメリカ・サンノゼで開催され、D3の松本高士が発表を行います。

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“Impact of Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuit Reliability (Invited),”
T. Matsumoto, K. Kobayashi*, H. Onodera,
Kyoto University, *Kyoto Institute of Technology

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