月別アーカイブ: 2012年12月
ATS 2012
RASEDA-10
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ICD学生・若手研究会
第31回シリコンアナログRF研究会
A-SSCC 2012
VMC2012
Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC), 2012 Shinichi Nishizawa. Tohru Ishihara and Hidetoshi Onodera, “An Impact of Within-die Variation on Supply Voltage Dependence of Path Delay, ” Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC), 2012 VMCはICCAD (International Conference on Computer-Aided Design)の併設ワークショップであり,我々はICCADにも参加してきました.最近はCADの研究分野は少し活気が少ないという話を聞いていましたが,まだまだ議論は盛んでしたし,よりよいチップを設計するためにももっともっとCADの進歩が必要という議論もよく聞かれました.我々はワークショップでのclosedな議論でしたが,やはりきちんとデータベースに登録される国際会議への投稿/議論をしたい気持ちになります. [gallery columns="2"] 初日は移動中に,スタンフォード大学によりました.快晴の空に金色のキャンパスのコントラストが大変綺麗でした.]]>