ATS 2012

D2のマーフズが11月19日~11月22日,ATS2012に参加してきました.ATSはAsian Test Symposiumの略で,名前の通りテスト技術に関するシンポジウムです.大学の研究室でチップを試作するとき,テストを考えないのが普通ですが,商品の場合テストは必須です.LSIの微細化によりトランジスタあたりの製造コストが減っているものの,トランジスタあたりのテストコストは減っていないです.22nm世代においてテストコストが製造コストを上回っているという報告.テストコストを以下に抑えるかが主な話題となっており,そのためにon-chip solutionが注目されています.チップのばらつき状況,環境などを考慮したテストの必要性が高まっており,様々なセンサーが必要とされています.発表者はオンチップばらつきモニタの利用によりチップのばらつき状況の把握することができることについて発表しました.タイトルは次です.

On-chip Detection of Process Shift and Process Spread for Silicon Debugging and Model-hardware Correlation

発表後,モニタ回路自体について興味を持った人がいましたが,共通の質問としてこれらをどうテストに使うのかとの質問を受けました.今後,オンチップセンサの結果を用いて,効率のよい遅延テストに関して研究していきたいです.

シンポジウムの初日はTutorialでした.Tutorialからテスト時の消費電力は回路の普通動作時の消費電力の4倍以上となってしまうことを勉強となりました.テスト時の消費電力削減問題はまだ残っており,研究に値する問題のように思いました.また,低消費電力設計に使う様々な回路構造のそれぞれがテストにいろいろなインパクトを与えることを知りました.テスト分野にまだ様々な問題があるようです.

ICD学生・若手研究会

12月17日・18日に東工大でICD学生・若手研究会が開催されました.幹事補佐の土谷と学生幹事の釡江が参加.

1日目は招待講演・一般講演の後,研究会のメインであるポスター発表へ.来年はうちからも投稿しましょう.優秀なポスターは賞がもらえます.

ポスター会場

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A-SSCC 2012

D2 マーフズと D1 釡江が神戸市内で開催された国際会議 Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC) 2012 にて口頭発表をしてきました. マーフズは, Student Design Contest にも参加し, ポスター発表と実機によるデモも行ってきました.

発表した予稿は, IEEE Xplore にも掲載される予定です.

VMC2012

D3 松本とD2 西澤が,San Jose/CAで開催されたワークショップ Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)にてポスター発表をしてきました.

Takashi Matsumoto, Kazutoshi Kobayashi and Hidetoshi Onodera,
“Impact of Body-biasing Technique on RTN-induced CMOS Logic Delay Uncertainty, ” Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC), 2012

Shinichi Nishizawa. Tohru Ishihara and Hidetoshi Onodera, “An Impact of Within-die Variation on Supply Voltage Dependence of Path Delay, ” Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC), 2012

VMCはICCAD (International Conference on Computer-Aided Design)の併設ワークショップであり,我々はICCADにも参加してきました.最近はCADの研究分野は少し活気が少ないという話を聞いていましたが,まだまだ議論は盛んでしたし,よりよいチップを設計するためにももっともっとCADの進歩が必要という議論もよく聞かれました.我々はワークショップでのclosedな議論でしたが,やはりきちんとデータベースに登録される国際会議への投稿/議論をしたい気持ちになります.

初日は移動中に,スタンフォード大学によりました.快晴の空に金色のキャンパスのコントラストが大変綺麗でした.